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高低温试验报告第三方检测机构

发布:2023-09-13 14:10,更新:2024-10-31 08:00

  本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准:GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364,MIL-STD-810F等。


  低温试验介绍


  本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。


  参考的测试标准:GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364,MIL-STD-810F等。


  温度冲击试验介绍


  本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。


  参考的测试标准:IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等


  高低温测试是用带加热和制冷功能的可编程高低温箱进行测试。测试前先检查测试样品的状态,外观、功能、性能等是否正常,并拍照;然后,将样品放入高低温箱中,设置温度箱的高温、低温值及各自保持的时间、变温的时间、周期数。比如高温70°C下保持2小时,然后从70°C半小时内降到低温-20°C,保持2小时,再从-20°C半小时内升温到70°C。如此循环,测试20个循环。测完后,拿出样品,检查测试后样品的外观、功能、性能等。如发现样品跟测试前相比无明显变化,或者变化在所定的标准范围之类,则表示测试样品的抗高低温循环性能符合要求,否则为不符合。


  电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电,在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电,在产品工作状态下进行测试。


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