电子元器件可靠性测试是为了评估电子元器件在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。电子元器件可靠性测试项目分为三类：电气性能测试、零部件环境可靠性、零部件机械类可靠性。

　　电子元器件可靠性测试项目及标准

　　1、电气性能测试

　　击穿电压、介电强度

　　参考标准：ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002

　　介电常数、介质损耗

　　参考标准：GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11

　　体积电阻率、表面电阻率

　　参考标准：GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14

　　耐电压

　　参考标准：EIA-364-20C

　　接触电阻

　　参考标准：EIA-364-06C

　　绝缘电阻

　　参考标准：EIA-364-21C

　　温升

　　参考标准：EIA-364-70B

　　2、零部件环境可靠性

　　盐雾试验

　　防尘防水试验/IP等级

　　高温试验

　　UV紫外光老化试验

　　冷热冲击试验

　　快速温度变化试验

　　交变湿热试验

　　恒温恒湿试验

　　气体腐蚀试验

　　低气压试验

　　臭氧测试

　　高压蒸煮（HAST）

　　氙灯老化/太阳辐射

　　3、零部件机械类可靠性

　　跌落试验

　　振动试验

　　冲击和撞击试验

　　插拔力测试

　　加速寿命试验HALT/HASS试验

　　碰撞试验

　　三综合试验